| Российский химико-аналитический
      портал | химический анализ и аналитическая химия в фокусе внимания ::: портал химиков-аналитиков ::: выбор профессионалов | 
|  |  | 
| ANCHEM.RU » Литература » Справочные, учебные материалы / книги » ... | 
| Тезисы VII конференции "Аналитика Сибири и Дальнего Востока - 2004" 
        » Устные доклады » Секция 2. Спектрометрические методы » ... Регрессионный учет фоновой составляющей аналитического сигнала при реализации способа фундаментальных параметров в РФАВладимирова Л.И., Павлинский Г.В., Портной А.Ю. Иркутский государственный университет Способ фундаментальных параметров (СФП) в рентгенофлуоресцентном анализе является одним из наиболее совершенных и основан на использовании теоретических представлений о формировании интенсивности рентгеновского аналитического сигнала. Его применение наиболее эффективно при использовании многоканальной рентгеноспектральной аппаратуры. В такой аппаратуре аналитический сигнал измеряется вместе с фоновой его составляющей, в то время как СФП предполагает, что указанный сигнал очищен от фона. Широко распространен вариант учета фона в СФП введением для каждого определяемого элемента поправок на его величину. Такой подход трудоемок, поскольку предполагает градуировку для всех элементов фоновой составляющей с помощью большого числа специальных фоновых образцов. Предлагается вариант учета величины фона, основанный на сопоставлении рассчитанных теоретически и измеренных интенсивностей аналитических линий рентгеновской флуоресценции. Если расчет интенсивностей (выполненный в условных единицах) точен, то они должны отличаться от измеренных интенсивностей на некоторый постоянный коэффициент при условии, что в измеренных интенсивностях отсутствует фоновая составляющая. Поскольку это условие не выполняется, то измеренную интенсивность следует дополнить слагаемыми для учета величины фона и факторов, на нее влияющих. Простейшими факторами являются интенсивности линий элементов, формирующих анализируемую пробу. Значимость этих факторов определяется корреляционным методом, а величины коэффициентов – регрессионным путем.     Предложенный способ
        опробован на аппаратуре с волновой
        дисперсией при различных вариантах
        рентгенофлуоресцентного СФП,
        примененного к стандартным образцам
        горных пород и высоколегированных
        сталей. Объяснены причины наблюдаемых
        корреляционных зависимостей. Точность
        результатов СФП с использованием
        регрессии не уступает точности
        практикуемого в настоящее время
        варианта с предварительным
        построением фоновых зависимостей. | 
«                                    Назад |  Содержание |
 Далее »
 
 
| ЖУРНАЛ | ЛАБОРАТОРИИ | ЛИТЕРАТУРА | ОБОРУДОВАНИЕ | РАБОТА | КАЛЕНДАРЬ | ФОРУМ | 
| Copyright © 2002-2022 «Аналитика-Мир профессионалов» | Размещение рекламы / Контакты |