| Тезисы VII конференции "Аналитика Сибири и Дальнего Востока - 2004" 
        » Устные доклады
        » Секция 2. Спектрометрические методы
        » ...
 Новый многоканальный спектрометрдля АЭС анализа
В.А. Лабусов, А.В. Михайлов, А.Н.
        Путьмаков А.В. Бехтерев, ООО «ВМК-Оптоэлектроника»,
        630090, г. Новосибирск, а/я 376, info vmk.ru     Наиболее
        распространенными многоканальными
        спектрометрами для АЭС анализа с
        многоэлементными твердотельными
        полупроводниковыми детекторами
        излучения являются в настоящее время
        эшелле-спектрометры. Оптическая схема
        этих спектрометров рассчитана на
        матричные детекторы. К недостаткам
        схемы относятся необходимость
        уменьшения спектра до размеров
        детектора, приводящая к ухудшению
        качества спектральных линий и
        снижающая чувствительность
        спектрометра, а также неэффективность
        использования детектора из-за
        нелинейности дисперсии призмы.     В настоящее время
        более перспективно использование
        линейных многоэлементных
        полупроводниковых детекторов. На их
        основе "ВМК-Оптоэлектроника"
        создан анализатор МАЭС (зарегистрирован
        в Государственном реестре средств
        измерений под №21013-01), который в течение
        десяти лет успешно заменяет ФЭУ и
        фотопластинки в отечественных и
        зарубежных спектрометрах. Однако в
        ряде случаев оптическая схема и
        конструкция этих спектрометров
        ограничивают возможности
        аналитического комплекса. Анализ
        оптических схем свидетельствует о том,
        что по совокупности предъявляемых
        требований (спектральный диапазон,
        разрешающая способность, светосила)
        для создания многоканального
        спектрометра с анализатором МАЭС в
        наиболее полной мере удовлетворяет
        оптическая схема Пашена – Рунге с
        вогнутой дифракционной решеткой со
        скомпенсированным астигматизмом. По
        техническому заданию "ВМК-Оптоэлектроника"
        в ГОИ была изготовлена новая вогнутая
        дифракционная решетка со
        скомпенсированным астигматизмом со
        следующими параметрами: радиус
        кривизны - 1м, количество штрихов на мм -
        2400, угол блеска - 220нм, размер
        заштрихованной части 60*50мм. На её
        основе по схеме Пашена – Рунге был
        создан спектрометр.     По сравнению с
        приборами, построенными по той же
        оптической схеме (МФС-8 производства
        ЛОМО, С-Петербург; ДФС-458 – КОМЗ, Казань;
        Cirus- фирмы Spectro), наш спектрометр имеет
        лучшую обратную линейную дисперсию - 4 Е/мм
        и светосилу. Малый температурный сдвиг
        спектральных линий - менее 2 мкм/°С и
        термостабилизация анализатора МАЭС
        обеспечивают стабильность параметров
        спектрометра. Широкий спектральный
        диапазон - 190-450нм, регистрируемый 44000
        фотодиодами при разрешающей
        способности 0,12Е расширяет возможности
        атомно-эмиссионого спектрального
        анализа, и совместно с программой АТОМ
        позволяет использовать его как для
        рутинного анализа материалов на
        производстве, так и для разработки
        аналитических методик.
 |