Влияние М-, N- фотоэлектронов и L-, M- электронов Оже на формирование интенсивности рентгеновской флуоресценции элементов с малыми атомными номерами

Тезисы VII конференции "Аналитика Сибири и Дальнего Востока - 2004" »
Устные доклады » Секция 2. Спектрометрические методы » ...

Влияние М-, N- фотоэлектронов и L-, M- электронов Оже на формирование интенсивности рентгеновской флуоресценции элементов с малыми атомными номерами

Г.В.Павлинский*, А.Ю.Духанин**, Е.О.Баранов*, А.В.Кюн***

*Иркутский государственный университет.

**Иркутский медицинский государственный университет.

***Шелеховский кремниевый завод.

Хорошо развитая теория фотоэлектрической возбуждения оказывается непригодной для объяснения рентгеновской флуоресценции элементов с малыми Z (Be,B,C,N,O,F) из-за ионизации их атомов фото- и Оже – электронами. В настоящее время достаточно изучено ионизирующее действие только К-, L- фотоэлектронов и К электронов Оже.

Если матрица содержит большие концентрации элементов с высоким атомным номером, то К- фото- и Оже электроны либо отсутствуют, либо их роль пренебрежимо мала. Но одновременно возникает поток М- и N- фотоэлектронов, а также L- и М – электронов Оже, энергия которых намного превышает энергию связи К- электронов в атомах рассматриваемых элементов. Роль потоков этих электронов в возбуждении атомов с малым атомным номером исследована в настоящей работе.

На примере интенсивности флуоресценции углерода показано, что для наполнителей с Z<30 достаточен учет только К-, L- фотоэлектронов и К- электронов Оже. С дальнейшим ростом атомного номера Z роль электронов удаленных от ядра оболочек быстро растет и достигает 80 – 90% для элементов с Z = 70-80. Изучено влияние элементного состава матрицы и спектрального состава первичного излучения на соотношение вкладов различных процессов в формирование интенсивности излучения углерода.

Результаты расчетов подтверждены их хорошим согласием с интенсивностью углерода в различных его соединениях, измеренной на рентгенофлуоресцентном спектрометре ARL – 9800. Результаты расчетов оказываются совершенно неудовлетворительными, если влияние фото- и Оже электронов не учитывается.

Выполненные исследования создают основу для распространения современных способов рентгенофлуоресцентного анализа (фундаментальных параметров, фундаментальных коэффициентов, теоретических поправок и т.д.) на определение содержаний элементов с малыми Z в однородных матрицах.