Пажетнов Е.М., Кощеев С.В.,
        Боронин А.И.
        Институт катализа им. Г.К.
        Борескова СО РАН, проспект академика
        Лаврентьева 5, 630090 Новосибирск, Россия,
        e-mail: gosha catalysis.nsk.su
catalysis.nsk.su
        Углеродные материалы (графит,
        карбин, углеродные волокна и пленки
        различного типа, алмазы и т.д.) широко
        используются в технике, так как
        обладают уникальными свойствами
        высокой температурной стойкостью,
        прочностью, эластичностью и т.д. Эти
        свойства варьируются в зависимости от
        структуры углеродных атомов. С
        открытием фуллеренов [1] и нанотрубок [2]
        резко увеличилась сфера применения
        углеродных материалов, которая стала
        охватывать наноэлектронику, катализ,
        эмиссионную электронику и так далее. В
        данных областях науки и техники особую
        роль играют как чистота, так и
        однородность материалов, поэтому
        изучение, связанное с идентификацией и
        количественным анализом углеродных
        аллотропов, представляет важную
        аналитическую задачу в данной
        конкретной области.
        Для определения типа
        углеродных структур применены
        рентгеновская фотоэлектронная
        спектроскопия (РФЭС) в совокупности с
        Оже- электронной спектроскопией (ОЭС). С
        помощью РФЭС и ЭОС имеется возможность
        проводить анализ электронной и
        геометрической структуры образцов.
        Важной особенностью этих методов
        является их неразрушающий характер
        воздействия, при этом требуются
        сравнительно небольшие затраты
        времени и средств. Кроме того, следует
        отметить возможность анализа тонких
        слоев и пленок, что немаловажно в
        случае образования фуллеренов,
        нанотрубок и наноалмазов, а также
        возможность получения в спектрах
        информации о химическом составе
        образцов, что дает контроль химической
        чистоты материалов.
        Применение этих методов
        требует специальных методик
        спектроскопической обработки, а также
        использование эталонов углеродных
        аллотропов, проводя сравнение со
        спектрами эталонов, разложение
        спектральных кривых по компонентам,
        анализ спектральных сателлитов и так
        далее [3].
        1. Smalley R. at al // Nature. 1985. Vol. 318, P.162-165.
        2. Iijima S. // Nature. 1991. Vol. 354. P. 56-61.
        3. Е.М. Пажетнов, С.В. Кощеев, А.И.
        Боронин // КИК 2003, том 44. № 3, с. 450-456.