| Тезисы VII конференции "Аналитика Сибири и Дальнего Востока - 2004" »
        
        Пленарные лекции » ... АНАЛИЗ ПОВЕРХНОСТИ:ВОЗМОЖНОСТИ ФИЗИЧЕСКИХ МЕТОДОВ
А.И. Боронин Институт катализа им. Г.К.
        Борескова. проспект академика
        Лаврентьева 5, Новосибирск 630090e-mail: boronin
  catalysis.nsk.su     Анализ
        поверхности твердых тел является
        необходимой составной частью
        исследований в целом ряде областей
        науки и техники, таких как физика
        полупроводников и микроэлектроника,
        коррозионные и теплозащитные покрытия,
        гетерогенный катализ, технологии
        синтеза наноматериалов и т.д.
        Интенсивность аналитических
        исследований поверхности значительно
        возросла в последние 10-20 лет в связи с
        инструментальным развитием методов,
        основанных как на известных, так и
        новых физических эффектах.     В данной лекции
        рассматривается современное состояние
        в области применения методов анализа
        поверхности, использующих различные
        физические принципы и явления.
        Основное внимание уделяется методам,
        основанным на энергетическом анализе
        рассеянных электронов, ионов и фотонов
        при их воздействии на поверхность
        твердых тел. Проводится классификация
        методов по типу зондирующих излучений
        и механизму анализа рассеянных
        излучений и частиц. Приводятся примеры,
        показывающие аналитические
        возможности современных методов
        анализа поверхности, где в качестве
        зондирующего излучения применяется
        синхротронное излучение.     Определенное
        внимание уделяется методам
        деструктивного и недеструктивного
        воздействия на поверхность
        анализируемого образца, показаны
        возможности современных методов,
        используемых при построении
        концентрационного профиля элементов
        по глубине образца.     Наряду с
        представлением физических основ и
        конкретных вариантов реализации
        методов обсуждается их аппаратурное
        оформление, рассматривается их
        чувствительность и селективность, а
        также принципиальные ограничения и
        возможности. Обсуждаются факторы,
        управляющие конкретной методикой,
        рассматривается роль основных
        параметров и варианты методов.
 |