Выполняет заказные работы по исследованию материалов методом растровой электронной микроскопии с помощью высокоразрешающего (до 1 нм) растрового электронного микроскопа Jeol JSM-6700F. Применяющееся оборудование оптимально для исследования наноматериалов (порошков, нанотрубок, нановолокон, наночастиц), микроструктур поверхностей и изломов материалов, шлифов в режиме контраста от состава образца. Возможен просмотр как проводящих (металлов, сплавов) так и плохопроводящих материалов (полимеры, оксиды и т.п)без использования проводящего напыления для сохранения тонкой структуры поверхности. Проведение исследования возможно в присутствии заказчика.
|