Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой - ИСП-МС XSeries 2

В конструкции масс-спектрометра с индуктивно связанной плазмой XSeries 2 применен ряд современных и эффективных решений:

• Система ввода пробы: концентрический распылитель, кварцевая камера с импактором.
• Многолинзовая ионная оптика для максимально гибкой настройки параметров прибора и обеспечения максимальной чувствительности при минимальном уровне матричных влияний и интерференций.
• Система устранения нейтральных частиц, состоящая из двух отклоняющих линз, расположенных, соответственно, до и после гексапольного ионного проводника (системы устранения интерференций), обеспечивает беспрецендентно низкий уровень фона, как в стандартном режиме, так и в режиме работы с газонаполненной ячейкой.
• Система откачки, состоящая из одного сплит-турбомолекулярного и одного форвакуумного насоса обеспечивает давление в масс-анализаторе в режиме работы на уровне порядка 10^-6 мбар (10^-7 в режиме Standby) и способствует моментальному переходу из режима работы с газонаполненной ячейкой в стандартный режим.
• Автоматизированная регулировка положения горелки в трех плоскостях позволяет достичь максимальной чувствительности и оптимизировать уровень оксидных и двухзарядных ионов.
• Система экранирования плазмы способствует повышению чувствительности прибора, подавляет образование полиатомных ионов и при необходимости позволяет проводить анализ в режиме «холодной плазмы».
• В качестве детектора используется дискретный динодный электронный умножитель с линейностью диапазона не менее 8 порядков, возможностью одновременной регистрации сигнала в импульсном и аналоговом режимах и с системой защиты от перегрузок.

В стандартном режиме масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой XSeries 2 демонстрирует следующие наиболее важные характеристики:

• Чувствительность не менее (Мимп•ppm/сек): 6 (⁷Li), 15 (⁵⁹Co), 40 (¹¹⁵In), 80 (²³⁸U) со стандартным Xt интерфейсом;
• Фон на массах 5, 110 и 220 а.е.м. менее 0,5 имп/сек;
• Отношение сигнал/шум не менее 80×106 (¹¹⁵In/220 а.е.м);
• Уровень оксидных ионов (СеО/Се) не более 3% (2% с Пельтье-охлаждением);
• Уровень двухзарядных ионов (Ва++/Ва+) не более 3%;
• Кратковременная стабильность результатов – 2%, долговременная стабильность – 3%;
• Динамический диапазон: более 9 порядков;
• Изотопическая чувствительность: 10^-6 (m-1), 5×10^-7 (m+1).

Программное обеспечение PlasmaLab позволяет:

• Проводить обработку полученных данных, одновременно с процессом анализа;
• Проводить масштабную пост-обработку данных;
• Устанавливать любые параметры прибора (настройки ионной оптики, разрешение, расход распылительного газа, скорость подачи пробы и др.) для любого определяемого в эксперименте изотопа;
• Получать полный спектр пробы наряду со спектром в режиме «прыжков по верхушкам пиков» и использовать полученный спектр для полуколичественного определения изотопов, не включенных в основную калибровку;
• Проводить визуальную идентификацию принадлежности пиков в спектре и различать интерференции и истинные сигналы аналитов.

Опции и дополнительные устройства:

• Система охлаждения распылительной камеры элементом Пельтье;
• Система подавления интерференций (газонаполненная реакционно-столкновительная ячейка последнего поколения), использующая принцип дискриминации по кинетическим энергиям, позволяет эффективно анализировать традиционно проблемные для ИСП-МС элементы в пробах различного происхождения. В системе могут быть использованы как химически нейтральные газы (гелий, аргон), так и реакционные газы (водород, аммиак, кислород, углеводороды) и их смеси;
• Скиммер-конус (Xs интерфейс) со специально подобранной геометрией, обеспечивающий повышение чувствительности прибора более чем на порядок наряду со значительным снижением эквивалентных фоновых концентраций, используется для определения ультранизких содержаний аналитов;
• Дополнительный регулятор расхода газа используется для добавления кислорода в плазму при необходимости прямого анализа органических образцов, а также для регулировки потока газа-носителя при использовании выносных устройств пробоотбора, например, лазерной абляции;
• Система ввода пробы, устойчивая к плавиковой кислоте включает разборную горелку с инжектором из инертного материала (корунд, платина или сапфир), фторопластовую распылительную камеру и пластиковый распылитель;
• Интерфейсные конуса с платиновыми наконечниками используются для массового анализа проб с высоким содержанием плавиковой кислоты, с целью предотвращения быстрого выхода конусов из строя, а также для анализа полупроводниковых материалов, в ходе которых требуется достижение минимального уровня эквивалентных фоновых концентраций;
• Автосамплеры CETAC ASX520, ASX260, ASX100 и ESI SC с функцией FAST;
• Система PrepLab, позволяющая проводить ряд манипуляций с образцом (добавление внутреннего стандарта, стандартной добавки, разбавление, проточно-инжекционное концентрирование, генерацию гидридов) on-line;
• Устройства лазерного пробоотбора (лазерная абляция) NewWave Research с длиной волны 266, 213 или 193 нм;
• Устройство пробоотбора микросверлением Micromill, NewWave Research;
• Интерфейс для подключения к газовым и жидкостным хроматографам, в том числе, сторонних производителей.