Российский химико-аналитический портал  химический анализ и аналитическая химия в фокусе внимания ::: портал химиков-аналитиков ::: выбор профессионалов  
карта портала ::: расширенный поиск              
 


ANCHEM.RU » Литература » Справочные, учебные материалы / книги » ...

Тезисы VII конференции "Аналитика Сибири и Дальнего Востока - 2004" »
Устные доклады » Секция 2. Спектрометрические методы » ...

Регрессионный учет фоновой составляющей аналитического сигнала при реализации способа фундаментальных параметров в РФА

Владимирова Л.И., Павлинский Г.В., Портной А.Ю.

Иркутский государственный университет

    Способ фундаментальных параметров (СФП) в рентгенофлуоресцентном анализе является одним из наиболее совершенных и основан на использовании теоретических представлений о формировании интенсивности рентгеновского аналитического сигнала. Его применение наиболее эффективно при использовании многоканальной рентгеноспектральной аппаратуры. В такой аппаратуре аналитический сигнал измеряется вместе с фоновой его составляющей, в то время как СФП предполагает, что указанный сигнал очищен от фона.

    Широко распространен вариант учета фона в СФП введением для каждого определяемого элемента поправок на его величину. Такой подход трудоемок, поскольку предполагает градуировку для всех элементов фоновой составляющей с помощью большого числа специальных фоновых образцов.

    Предлагается вариант учета величины фона, основанный на сопоставлении рассчитанных теоретически и измеренных интенсивностей аналитических линий рентгеновской флуоресценции. Если расчет интенсивностей (выполненный в условных единицах) точен, то они должны отличаться от измеренных интенсивностей на некоторый постоянный коэффициент при условии, что в измеренных интенсивностях отсутствует фоновая составляющая. Поскольку это условие не выполняется, то измеренную интенсивность следует дополнить слагаемыми для учета величины фона и факторов, на нее влияющих. Простейшими факторами являются интенсивности линий элементов, формирующих анализируемую пробу. Значимость этих факторов определяется корреляционным методом, а величины коэффициентов – регрессионным путем.

    Предложенный способ опробован на аппаратуре с волновой дисперсией при различных вариантах рентгенофлуоресцентного СФП, примененного к стандартным образцам горных пород и высоколегированных сталей. Объяснены причины наблюдаемых корреляционных зависимостей. Точность результатов СФП с использованием регрессии не уступает точности практикуемого в настоящее время варианта с предварительным построением фоновых зависимостей.
 

« Назад | Содержание | Далее »
 


ААС, ИСП-АЭС, ИСП-МС - прямые поставки в 2022 году

ПОСЛЕДНИЕ НОВОСТИ ANCHEM.RU:      [ Все новости ]


ЖУРНАЛ ЛАБОРАТОРИИ ЛИТЕРАТУРА ОБОРУДОВАНИЕ РАБОТА КАЛЕНДАРЬ ФОРУМ

Copyright © 2002-2022
«Аналитика-Мир профессионалов»

Размещение рекламы / Контакты