Аналитические возможности полупроводниковой спектрометрии при анализе продуктов цветной металлургии

Тезисы VII конференции "Аналитика Сибири и Дальнего Востока - 2004" »
Стендовые доклады » Стендовая Секция II.Спектрометрические методы » ...

Аналитические возможности полупроводниковой спектрометрии при анализе продуктов цветной металлургии

Образовский Е.Г.

ООО «Химполитех», 630060 Новосибирск, Зеленая Горка,1, e-mail: cptirs.ru

Промпродукты цветной металлургии характеризуются многообразием элементного состава, широким диапазоном изменения концентраций ценных компонентов и ни один аналитический метод не в состоянии полностью решить возникающие задачи. В связи с чем встает вопрос о наиболее целесообразном применении конкретных методов анализа с целью использования их наиболее выгодных особенностей.

Применение полупроводниковой спектрометрии для регистрации рентгеновского и гамма-излучения, которое используется в качестве аналитического сигнала в рентгенофлуоресцентном (РФ) и нейтронно-активационном (НА) методах анализа, способствовало существенному прогрессу их развития в направлении расширения круга одновременно определяемых элементов, повышения селективности и снижения погрешностей. РФ метод характеризуется высокой экспрессностью и недеструктивностью анализа, тогда как НА метод отличает высокая чувствительность и надежность определения предельно малых содержаний большого числа элементов.

Для реализации потенциальных возможностей РФ и НА методов были проведены исследования по оптимизации условий измерения аналитических сигналов полупроводниковыми детекторами в плане минимизации случайной и систематической составляющих погрешности, повышения селективности и, в случае невозможности инструментального определения, количественной формулировки требований к необходимой степени отделения мешающих компонентов и выбора адекватной химической процедуры. Важной особенностью является систематическое использование в качестве аналитических линий в РФ методе определения тяжелых цветных металлов К-серии характеристического рентгеновского излучения, а в НА методе – мягкого гамма- и рентгеновского излучения, регистрируемого планарным германиевым детектором, что позволяет существенно повысить селективность и снизить пределы определения большого числа элементов.

На основе проведенных исследований были разработаны методики, перечень основных из которых дает представление о широких возможностях РФ и НА методов при анализе промпродуктов цветной металлургии :

НА анализ высокочистых веществ, как в инструментальном варианте для слабоактивирующихся основ – Si, Al, Sn, P ,так и с радиохимическим отделением для сильноактивирующихся элементов – Au, Ag, Mo, Te, Cd, Ga, In – с определением 30 – 40 примесей на уровне 10^-4 – 10^-10 %, которые использовались для усовершенствования технологии очистки и аттестации СО состава Si, Sn, Cd;

НА и РФ анализа атмосферных аэрозолей, почв, растительности в зоне действия предприятий цветной металлургии;

РФ экспрессной неразрушающей сортировки вторичного сырья драгоценных металлов, разбраковки лома цветных металлов, анализ сталей, латуней, бронз;

РФ опробования Ag- и Pd – содержащих отработанных катализаторов и отходов;

Рентгеноабсорбционное высокоселективное определение Ta, W, Re, Os, Ir в технологических продуктах, в т.ч. W в растворах непосредственно в потоке.