Форумы ANCHEM.RU: ИК и ЯМР-спектроскопия углеродных материалов.

Российский химико-аналитический портал

химический анализ и аналитическая химия в фокусе внимания ::: портал химиков-аналитиков ::: выбор профессионалов

карта портала ::: расширенный поиск

ANCHEM.RU » Форумы » 1. Аналитический форум ...

Форум химиков-аналитиков, аналитическая химия и химический анализ.

ИК и ЯМР-спектроскопия углеродных материалов. >>>

Ответов в этой теме: 6

[ Ответ на тему ]

Автор

Тема: ИК и ЯМР-спектроскопия углеродных материалов.

vesanna
Пользователь
Ранг: 70

22.03.2006 // 8:13:24

Пожскажите, пожалйста, можно ли спектроскопически определять (а в частности ИК и ЯМР-спектроскопии) характеристики поверхности углеродного материала, в частности групп на его поверхности.Если да, то как?

ANCHEM.RU
Администрация
Ранг: 246

foZgen
Пользователь
Ранг: 32

22.03.2006 // 13:37:24

vesanna пишет:
Пожскажите, пожалйста, можно ли спектроскопически определять (а в частности ИК и ЯМР-спектроскопии) характеристики поверхности углеродного материала, в частности групп на его поверхности.Если да, то как?

ИК можно использовать с приставкой МНПВО ( многократного нарушенного полного внутреннего отражения). Про ЯМР сомневаюсь.

vesanna
Пользователь
Ранг: 70

22.03.2006 // 14:07:25

foZgen пишет:

vesanna пишет:
Пожскажите, пожалйста, можно ли спектроскопически определять (а в частности ИК и ЯМР-спектроскопии) характеристики поверхности углеродного материала, в частности групп на его поверхности.Если да, то как?
ИК можно использовать с приставкой МНПВО ( многократного нарушенного полного внутреннего отражения). Про ЯМР сомневаюсь.

Где можно подробнее получить информацию об этом?(лит-ра?)
Я в физ. методах не столь сильна, а в приборах тем более.

foZgen
Пользователь
Ранг: 32

22.03.2006 // 14:47:54

vesanna пишет:
Где можно подробнее получить информацию об этом?(лит-ра?)
Я в физ. методах не столь сильна, а в приборах тем более.

Подробнее увы не скажу, давно этим не занимаюсь, хотя раньше начинал именно с углеродных материалов.
Есть несколько монографий по ИК спектроскопии поверхностей. По сути это классическое ИК, отличается только методом измерения, когда используется дополнительная приставка для помещения твердого образца и обеспечения отражения. Погуглите по ключевым словам.
Кроме ИК еще интенсивно используются методы электронной спектроскопии и SEM (особенно хорош с присадками для контроля элементного состава поверхности).

ГришаК
Пользователь
Ранг: 152

23.03.2006 // 10:18:11

Я бы, скорее, стал использовать метод диффузного отражения.

vesanna
Пользователь
Ранг: 70

24.03.2006 // 9:51:39

ГришаК пишет:
Я бы, скорее, стал использовать метод диффузного отражения.

И где я могу найти по нему информацию? В чем преимущества и что им можно определить?Есть что-нибудь из классических книжек?

Каталог ANCHEM.RU
Администрация
Ранг: 246

УФ-Вид спектрофотометры Analytik Jena SPECORD® PLUS
SPECORD® PLUS – новая серия УФ-Вид спектрофотометров для проведения качественного и количественного анализа веществ в растворе по спектрам поглощения и пропускания и изучения свойств поверхностей и поверхностных взаимодействий твёрдых проб по спектрам отражения и рассеивания.

[ Информация из каталога оборудования ANCHEM.RU ]

Викторовна
Пользователь
Ранг: 2

24.03.2006 // 12:10:41

vesanna пишет:
Пожскажите, пожалйста, можно ли спектроскопически определять (а в частности ИК и ЯМР-спектроскопии) характеристики поверхности углеродного материала, в частности групп на его поверхности.Если да, то как?

Vesanna, ты вчера в Пушкинке была?


Ответов в этой теме: 6	Ответ на тему

ПОСЛЕДНИЕ НОВОСТИ ANCHEM.RU: [ Все новости ]

Размещение рекламы / Контакты