Российский химико-аналитический портал  химический анализ и аналитическая химия в фокусе внимания ::: портал химиков-аналитиков ::: выбор профессионалов  
карта портала ::: расширенный поиск              
 



ANCHEM.RU » Форумы » 1. Аналитический форум ...
  1. Аналитический форум | Список форумов | Войти в систему | Регистрация | Помощь | Последние темы | Поиск

Форум химиков-аналитиков, аналитическая химия и химический анализ.

ИК и ЯМР-спектроскопия углеродных материалов. >>>

  Ответов в этой теме: 6

[ Ответ на тему ]


Автор Тема: ИК и ЯМР-спектроскопия углеродных материалов.
vesanna
Пользователь
Ранг: 70

22.03.2006 // 8:13:24     
Пожскажите, пожалйста, можно ли спектроскопически определять (а в частности ИК и ЯМР-спектроскопии) характеристики поверхности углеродного материала, в частности групп на его поверхности.Если да, то как?
Реклама на ANCHEM.RU
Администрация
Ранг: 246
Размещение рекламы
foZgen
Пользователь
Ранг: 32


22.03.2006 // 13:37:24     

vesanna пишет:
Пожскажите, пожалйста, можно ли спектроскопически определять (а в частности ИК и ЯМР-спектроскопии) характеристики поверхности углеродного материала, в частности групп на его поверхности.Если да, то как?

ИК можно использовать с приставкой МНПВО ( многократного нарушенного полного внутреннего отражения). Про ЯМР сомневаюсь.
vesanna
Пользователь
Ранг: 70


22.03.2006 // 14:07:25     

foZgen пишет:

vesanna пишет:
Пожскажите, пожалйста, можно ли спектроскопически определять (а в частности ИК и ЯМР-спектроскопии) характеристики поверхности углеродного материала, в частности групп на его поверхности.Если да, то как?
ИК можно использовать с приставкой МНПВО ( многократного нарушенного полного внутреннего отражения). Про ЯМР сомневаюсь.

Где можно подробнее получить информацию об этом?(лит-ра?)
Я в физ. методах не столь сильна, а в приборах тем более.
foZgen
Пользователь
Ранг: 32


22.03.2006 // 14:47:54     

vesanna пишет:
Где можно подробнее получить информацию об этом?(лит-ра?)
Я в физ. методах не столь сильна, а в приборах тем более.

Подробнее увы не скажу, давно этим не занимаюсь, хотя раньше начинал именно с углеродных материалов.
Есть несколько монографий по ИК спектроскопии поверхностей. По сути это классическое ИК, отличается только методом измерения, когда используется дополнительная приставка для помещения твердого образца и обеспечения отражения. Погуглите по ключевым словам.
Кроме ИК еще интенсивно используются методы электронной спектроскопии и SEM (особенно хорош с присадками для контроля элементного состава поверхности).
ГришаК
Пользователь
Ранг: 152


23.03.2006 // 10:18:11     
Я бы, скорее, стал использовать метод диффузного отражения.
vesanna
Пользователь
Ранг: 70


24.03.2006 // 9:51:39     

ГришаК пишет:
Я бы, скорее, стал использовать метод диффузного отражения.

И где я могу найти по нему информацию? В чем преимущества и что им можно определить?Есть что-нибудь из классических книжек?
Реклама на ANCHEM.RU
Администрация
Ранг: 246
Размещение рекламы
Атомно-абсорбционный спектрометр (ААС) Varian SpectrAA 50 Атомно-абсорбционный спектрометр (ААС) Varian SpectrAA 50
АА Спектрометр начального уровня: однолучевая схема, две лампы. Встроенная система обработки данных с интерфейсами на многих языках, включая русский.
[ Информация из каталога оборудования ANCHEM.RU ]
Викторовна
Пользователь
Ранг: 2


24.03.2006 // 12:10:41     

vesanna пишет:
Пожскажите, пожалйста, можно ли спектроскопически определять (а в частности ИК и ЯМР-спектроскопии) характеристики поверхности углеродного материала, в частности групп на его поверхности.Если да, то как?
Vesanna, ты вчера в Пушкинке была?

  Ответов в этой теме: 6

Ответ на тему



ПОСЛЕДНИЕ НОВОСТИ ANCHEM.RU:      [ Все новости ]

ЖУРНАЛ ЛАБОРАТОРИИ ЛИТЕРАТУРА ОБОРУДОВАНИЕ РАБОТА КАЛЕНДАРЬ ФОРУМ

Copyright © 2002-2009
«Аналитика-Мир профессионалов»

Размещение рекламы / Контакты